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使用OriginLab进行PMT能谱分析

归档日期:05-16       文本归类:谱分析      文章编辑:爱尚语录

  PMT的能谱分析主要涉及两个方面,一方面是对ADC的采样值进行分析确认ADC采样正确。另一方面是对ADC的采样值进行积分,针对此积分值进行分析,即所谓的PMT能谱分析。能谱分析以及ADC采样处理分析必须使用工程SEP_ES_debug下的Virtual JTAG调试工具,因为这个测试复用了其他测试的ir_in端口,如果使用其它地方的工具有可能会导致参数无法设置。

  首先介绍ADC的调试(ADC子板还要经过设计者的硬件等测试),对于SEP来说ADC的调试就是确认FPGA接收从ADC来的采样值是否正确。所以ADC采集PMT的信号并转换成数字信号送到FPGA,通过Virtual JTAG调试工具又从FPGA逻辑内读取ADC采样值进行离线分析。

  读取ADC采样值时Virtual JTAG工具的使用方法介绍,对应的Quartus II工程名称是SEP_ES_debug,此时Virtual JTAG逻辑借用了TDC调试中用到的两个FIFO,即一个FIFO用于存储ADC采样值,另一个FIFO用于存储ADC采样值的积分值。所以在读取ADC采样值时,首先要往第一个FIFO里写入ADC采样值,使能信号通过按钮“FIFO Push CMD”发送,发送同时将滑动条设置为“1”(此时相当于给这个FIFO一个写使能信号),如果要停止写这个FIFO,那么就再次按这个按钮的同时将滑动条的设置为“0”(清除写使能)。读FIFO的时候点击按钮“Full Read FIFO”的同时在“Par1”输入窗口里设置读取的数目(注意此时Slider也需要同时设置为0)。(笔者注:Virtual JTAG调试平台参考其他文章)

  在OriginPro里分析ADC采样值,新建一个WorkBook,将读取到的ADC采样值拷贝到book中(新建的book默认有两列,即A列和B列,必须先删除一列),选择整列数据后使用Plot下Line命令(如图1所示)重建信号,如图2所示。

  注意图2重建后的ADC信号,是通过PMT脉冲产生的另外一个trigger信号触发FPGA逻辑锁存100个samples并存往FIFO。所以,在图2中看出的效果是各个脉冲之间间隔一致。

  下面介绍PMT能谱测试,能谱测试的原始数据是ADC采样值的积分,存储在Virtual JTAG逻辑的第二个FIFO中。点击按钮“FIFO Push CMD”的同时将滑动条设置为“3”来使能逻辑向FIFO里写入积分值,如果要停止写这个FIFO,那么就再次按这个按钮的同时将滑动条的设置为“2”。读FIFO的时候点击按钮“Full Read FIFO”(注意此时Slider要设置为非0),这时不需要在“Par1”输入窗口里设置读取的数目,因为在Tcl代码里已经写死了,如果需要修改读取的数目,可以在tcl代码里直接修改。

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